u-Thick è uno strumento optoelettronico per la misura di spessore di film sottili multistrato trasparenti e semitrasparenti.

u-Thick può essere impiegato con successo nella misura di spessore di:

• film plastici ed ottici
• coating su vetro, basi metalliche e dispositivi ottici
• strati adesivi trasparenti
• protesi e dispositivi medicali
• semiconduttori, photoresist e ossidi

 

Per ulteriori informazioni è possibile scaricare la presentazione del prodotto 

frequenza di misura [Hz]	120
accuratezza [um]	<0.1
spessore massimo misurabile [um] (n=1.5)	100
diametro del punto indagato [mm]	2
distanza nominale di lavoro [mm]	40
tolleranza sulla distanza di lavoro [mm]	±5
interfaccia di uscita	TCP/IP RS485

• software di supervisione per la visualizzazione e la gestione del dato di misura a bordo linea o in sala di controllo mediante software standard o realizzato ad hoc
• scanner da laboratorio: fornitura di sistemi di movimentazione della testa ottica per controllo profili o realizzazione di mappe di spessore
• realizzazione di applicativi dedicati per visualizzazione e gestione del dato di spessore in base alle Vostre esigenze